離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測(cè)試

簡(jiǎn)要描述：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測(cè)試，在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

更新時(shí)間：2024-05-14
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品型號(hào)：ECM-500

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	產(chǎn)地	進(jìn)口
加工定制	否

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置絕緣電阻值測(cè)試

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。（ ION MIGRATION TESTING ）

在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

適用規(guī)格： JPCA- - ET01- - 2001

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