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簡要描述：J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
更新時間：2025-02-24訪 問 量：4550廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品型號：ECM-500| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試
J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, , 經(jīng)過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
適用規(guī)格 ： JPCA- - ET01- - 2001
J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試
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路行業(yè)協(xié)會(CPCA)會員企業(yè)。公司位于香港，營運中心設在深圳，在日本東京擁有子公司，在新加披、越南、泰國英國設有商務和銷售據(jù)點，在中國上海、蘇州、青島、武漢、成都、廈門等設有營業(yè)網(wǎng)點全國設有多家授權(quán)分銷商。
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